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更新時間:2024-11-13
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JB4040型 β、γ表面污染檢測儀
簡介
JB4040型 β、γ表面污染檢測儀,適用于低水平β、γ輻射表面污染檢測,同時也適用與X、γ輻射劑量率的監(jiān)測。儀器采用進口蓋革探測器,具有較高的探測效率;是環(huán)境實驗室、核醫(yī)學、分子生物學、放射化學、核原料運輸、儲存和商檢等領域進行α,β輻射表面污染檢測或X,γ輻射防護監(jiān)測的理想儀器,該儀器采用單片機控制,LCD液晶顯示,讀數(shù)清晰、操作方便。
特點
◆GM探測器陣列,探測效率高
◆便攜式設計,重量輕
◆單片機控制,軟件功能強
◆LCD液晶顯示,會話式操作界面
◆計數(shù)率顯示CPM、CPS、μSv/h
◆電池失效報警
主要技術指標
◆計數(shù)范圍:1~106
◆探測器面積:25cm2
◆靈 敏 度:≥500 CPM/μSv/h
◆劑量率范圍:0.01~200.00µSv/h
◆儀器本底:每分鐘計數(shù)≤130 CPM
◆相對基本誤差:≤20%
◆供電電源:2節(jié)1.5v普通5號電池,整機電流≤50mA
◆溫度范圍:-10℃~45℃
◆濕度范圍:相對濕度≤90%(40℃)
◆尺寸重量:0.64kg;23×13×4.5(cm)
ce?'e?%??p size:12.0000pt; font-family:'新宋體'; " >◆報 警 閾:250、500、2500、10000(nGy/h)
◆讀數(shù)顯示:nGy/h
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